便携式半导体器件静态参数测试仪

  • 发布时间:2023-03-18 13:56:38,加入时间:2019年06月26日(距今1980天)
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系统特征

序号

测试器件

01

二极管

02

晶体管NPN/PNP

03

J型场效应管

04

MOS场效应管

05

双向可控硅

06

可控硅

07

lGBT

08

硅触发可控硅

09

达林顿阵列

10

金属氧化物压变电阻

12

固态过压保护器

13

稳压、齐纳二极管

栅极发射极

VGES:0-40V

分辨率0. 1V

lGES:0.1-10Ua

分辨率0.01uA

Vce:0V

集电极发射极

Vces:100-3000v

分辨率10V

lces:100UA-5mA

分辨率10uA

Vge:0V

Vge:0V

栅极发射极阈值电压

Vge(th):1-10V

分辨率0lV

集电极

发射极

饱和电压

VCE(sat):02-5V

分辨率0.01V

lCE:10-100A

分辨率1A

二极管

VF:0-5V

分辨率0.01V

lF:0-100A

分辨率1A

Vge:0V

二极管反向**
可恢复直流电压

Vces:100-3000V

分辨率10V

lces; 100UA-5mA

分辨率10uA

便携式半导体器件静态参数测试仪

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