温度冲击试验是金属电子等材料行业必备的测试， 用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
试验主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在温度急剧
变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验主要用于对产品按照国
家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理
以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，
是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。
本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。
测试参考标准
IEC60068-2-14，GB2423.22.GIB150.5 等
试验用途
试验适用干电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等。
同时通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验
是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试，考核和确定电工、电子、汽车电
器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用
的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位.
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