高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

  • 发布时间:2024-03-04 09:34:17,加入时间:2024年02月28日(距今269天)
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 针对LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的误码测试仪(BERT)适合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理层接收机信号质量完整性测试及针对DDR5协议层之功能性验证. 目前该产品有广泛的应用在各大DDR5相关的厂商中,完整的支持DDR5 DRAM Test Suite,DDR5 R-DIMM Test Suite, DDR5 RCD Test Suite,DDR5 DB Test Suite,LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客户包括: Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron,Hynix等等。

­LPDDR5/DDR5提供了高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

                    

Introspect新世代DDR5测试仪

主要功能:

完整的命令编码和译码功能,工程师无需了解所需的命令真值表,已完整内建在测试仪内

具备DDR5协议功能之产生器已支持DDR5之命令接口

具备DDR5协议功能之分析仪可解析DDR5 CA/CK or DQ/DQS之所有协议命令

仿真主机控制器(Host controller)以针对DRAM或是RCD之功能测试

接收端测试:

具备可注入干扰及抖动之码型产生器

具备Rx strobe抖动灵敏度测试

误码量测功能

发送端测试:

DQ 和 DQS抖动量测

眼图量测

高速多通道Tx/Rx误码测试仪(BERT)

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