Agilent 4286A 射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。
与反射测量技术不同，采用直流电 压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。 生产率高，质量可靠HP4286A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。
4286A的测量非常快。此外，在小测 试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程 非常短。
系统组建简单测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近 ，而不会使误差有任何增大。
增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或 阵列芯片测试。
