电子元器件高温存储寿命试验

发布时间：2021-11-09 15:31:09,加入时间:2019年07月18日(距今1948天)
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高温储存寿命实验目的

为了考核高温对试样的影响，确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

实验原理

电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化，从而确定电子元器件的抗高温能力。

实验室参考标准：AEC-Q100-Rev-HA6

广州市优耐检测技术有限公司

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