诚信供应ZVA50网络分析仪 ZVA50二手回收

R&S ZVA 系列矢量网络分析仪

高性能高达110 GHz到4个测试端口

R＆S ZVA8 300kHz-8 GHz

R＆S ZVA24 10MHz-24GHz

R＆S ZVA40 10MHz-40GHz

R＆S ZVA50 10MHz-50GHz

R＆S ZVA67 10MHz-67GHz

R＆S ZVA110 10MHz-110GHz

主要特点
•台具有以下特点的矢量网络分析仪
° 带 4 个内部信号源，频率高达 50 GHz，可以快速地对放大器和混频器进行测量
° 具有 4 个相位相干信号发生器功能（频率可高达 50 GHz）
° 中频带宽可高达 30 MHz，可以实现放大器和混频器的脉冲测量功能
• 可以对带或不带本振接入的混频器的变频损耗进行相位和群延时测量
• 可以对放大器和混频器进行谐波、压缩、互调和 Hot S22测量
• 实现了无噪声源噪声系数定义的新方法
• 实现了脉内扫频测量、脉冲平均扫频测量和脉冲包络测量
• 2 个内部脉冲发生器
• 通过 R&S®ZVAX24，实现了内部脉冲调制器和组合器
• 嵌入/去嵌入功能通过虚拟网络实现阻抗匹配
• 支持真差分测量，可以表现出平衡设备的非线性效应
• 多功能校准技术：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal

详细介绍
  R&S®ZVA 系列产品属于高端矢量网络分析仪，多可支持 4 个信号源，可以地测量高达 110 GHz 的信号。需要对高性能、多功能型有源或无源组件和模块进行要求极高的测量时，该系列产品是理想的选择。其高频型产品的频率范围可扩展至 500 GHz。
的性能(*)
宽动态范围典型值 >150 dB
高输出功率典型值 >18 dBm
高测量速度每个点 <2 μs
采样时间非常短每个点 430 ns
测量点数多每条迹线多达 60001 个点
中频带宽大 15 MHz（脉冲包络测量时为 30 MHz）
内部信号源 2（4 端口型号）
(*)需使用数据、特殊选件或 1 Hz IF 带宽，详见“规格简介”或 R&S®ZVA 参数表。
R&S®ZVA 已经成为解决绝大多数极具挑战性应用的里程碑式产品：
台频率可高达 67 GHz，并且含两路内部源的矢量网络分析仪，可以快速地对放大器和混频器进行测量
• 线性和非线性放大器和混频器测量：
° 对混频器变频损耗的矢量误差校正幅度和相位进行测量
° 对带内置本振的群延时和相对相位进行测量
° 对混频器的变频损耗和互调进行测量
° 对放大器进行互调和 Hot S 参数进行测量
• 脉冲测量：
° 台中频带宽高达 30 MHz 的矢量网络分析仪，用于对工作频率高达 67 GHz的放大器和混频器进行脉冲测量（详细内容请参见“应用”和“选件”）
° 对脉宽小于 50 ns 的脉冲信号进行分辨率高达 12.5 ns 的脉冲包络测量
° 频率和功率扫描式的脉内测量
• 台工作频率高达 50 GHz 、可以产生相位相干信号的矢量网络分析仪
° 采用真差分模拟，可以快速、简便地测试平衡待测设备
° 输入到DUT 参考面上的信号的幅值和相位关系支持用户自定义
• 校准
° 多功能校准技术：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM
° 方便、快捷的矢量混频器校准功能和带有“未知通路”校准 UOSM的“适配器去除功能”
特性：
1.化的测试和配置时间，提高了测试速度
大中频带宽和宽动态范围，使测量更快、更加
R&S®ZVA 创立了测量速度的新标杆：它将高达 1 MHz的中频带宽（可选 5/10 MHz）和高速合成器结合在一起，缩短了测量时间，从而提高了手动调整和自动化生产过程的效率。在CW 模式下，每个测试点的测量时间不到 3.5μs；频率扫描模式下200 多个测试点不到 5ms 即可完成。
由于该分析仪的动态范围宽、相位噪声低，因而这种速度优势丝毫不会对测量准确性产生影响。借助 R&S®ZVA 上 100 多个独立信道和配置的迹线，可以在短时间内完成复杂组件全面的功能测试。不再需要耗时地加载新的仪表设置。
宽动态范围
小化的校准工作量和校准时间
R&S®ZV-Z5x 自动校准单元
采用自动校准单元，将校准时间降低至小：
• 自动检测已经连接的设备和端口：无需配置。
• 工作温度范围极宽，预热时间几乎为零。
手动校准
• 罗德与施瓦茨网络分析仪支持数量多的校准技术。测试装置的夹具、晶片、PCB、波导或者导线端头可能需要校准。选择可以支持适用校准标准的校准技术。
• 系统设计有结构清晰的对话框，显示所有的校准步骤，确保校准工作正确无误。
• 校准期间，错误的连接仅需重做相应的校准步骤，即，无需从头开始的重新校准。
• 对于多端口重新校准，更加省心省力：更换测试仪组件（例如，某个故障电缆）之后，仅需重新校准相应的通路。
• 避免重新校准：对于后续测量信道和设置，可以使用已有的校准结果。
并行测量 — 测量速度比原来快四倍
R&S®ZVA 的发生器设计，使得每个测试端口都可以同时作为信号源和接收机使用。因此，可以对测试端口进行分组。在各个测试端口组上进行的测量任务可以彼此实现同步。因而，可以并行地测量多个 DUT 或者一个 DUT 的多个通路；测量时间仅相当于测量一个设备所需要的时间。因此，同时测量两个两端口DUT时，速度将提高一倍；同时测量四个单端口DUT时，速度将是原先的四倍。
并行测量