| 重量：0.3（kg） | 型号：XR-100CR | 测量精度：nm |
| 尺寸：5（mm） | 分辨率：10nm | 品牌：Amptek |
| 加工定制：否 | 测量范围：X射线 | 测量对象：X放射物 |
深圳湾边贸易进口代理Amptek XR-100CR X射线探测器价格优惠！Amptek X射探测系统，Amptek X光检测仪， Amptek手执X射线探测器价格优惠！
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TheXR-100CR系列产品由高性能 系列产品由高性能 系列产品由高性能 系列产品由高性能 系列产品由高性能 X射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成首次 射线探头，前置放大器（）和致冷系统组成 TheXR-100CRis a high performancex-ray detector,preamplifier, andcoolersystem using a thermoelectrically cooled Si-PIN photodiode as an x-ray detector. Also mounted on the 2-stage cooler are the input FET and a novel feedback circuit. These components are kept at approximately -55 °C, and are monitored by an internal temperature sensor. The hermetic TO-8 package of the detector has a light tight, vacuum tight thin Beryllium window to enable soft x-ray detection. The XR-100CR represents a breakthrough in x-ray detector technology by providing "off-the-shelf" performance previously available only from expensive cryogenically cooled systems. |
