光伏系统运维组件的热斑效应及PID效应

  • 发布时间:2024-11-20 11:12:47,加入时间:2024年06月13日(距今161天)
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组件的热斑效应及PID效应

在光伏发电系统中串联支路中被遮蔽的太阳能电池组件,将被当作负载消耗其他有光照的太阳能电池组件所产生的能量,被遮蔽的太阳电池组件此时会发热,这就是热斑效应。

这种效应能严重的破坏太阳电池。有光照的太阳电池所产生的部分能量,都可能被遮蔽的电池所消耗。而造成热斑效应的,可能仅仅是一块鸟粪。

为了防止太阳电池由于热斑效应而遭受破坏,在太阳电池组件的正负极间并联一个旁路二极管,以避免光照组件所产生的能量被受遮蔽的组件所消耗。当热斑效应严重时,旁路极管可能会被击穿,令组件烧毁。

(2)PID效应

电位诱发衰减效应(PID, Potential Induced Degradation)是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区最易发生PID现象。

造成组件PID现象的原因主要有以下三个方面:

(1)系统设计原因:光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的,这就造成在单个组件和边框之间形成偏压,组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件,通过逆变器负极接地,对于N型晶硅组件,通过逆变器正极接地,消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生,但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本

(2)光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。另外,光伏组件中的玻璃主要为钙钠玻璃,玻璃对光伏组件的PID现象的影响至今尚不明确;

(3)电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。

上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件P1D现象被行业所公认,但在组件和电池片两个方面组件产生PID现象的机理尚不明确相应的进一步提升组件的抗PID性能的措施仍不清楚。

双玻组件不需要铝框,即使在玻璃表面有大量露珠的情况下,没有铝框使导致PID发生的电场无法建立,透水率也非常低,降低了发生PID衰减的可能性。

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