SuperViewW中图轮廓测量仪器

  • 发布时间:2024-01-02 11:34:55,加入时间:2015年11月17日(距今3324天)
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  • 公司:深圳市中图仪器股份有限公司, 用户等级:普通会员 已认证
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SuperViewW1中图轮廓测量仪器是以白光干涉技术为原理的,一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。

产品功能

(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。

应用领域

对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

SuperViewW1中图轮廓测量仪器通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。高精度、高重复性:

(1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;

(2)隔振系统能够有效隔离频率2Hz以上大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性。

SuperViewW中图轮廓测量仪器

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