运行 Clarius SWon Win7 嵌入式计算机的直观、触摸屏界面。独特的可选远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 10 aACV 仪器使 CV 测量像 DC IV 一样简单用于高级半导体测试的脉冲和脉冲 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能独立的 提供快速的测试设置、强大的数据分析、图形和打印以及测试结果的板载大容量存储。配备嵌入式测量专业知识和数百个即用型应用测试，用于点击式可靠性测试的内置压力/测量、循环和数据分析，包括五个符合 JEDEC 标准的样品测试集成支持各种 LCR 仪表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器包括用于领先分析探针的软件驱动程序
吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪表征系统执行实验室级 DC 和脉冲器件表征、实时绘图和分析，具有高精度和亚 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步电流-电压 (IV)、电容-电压 (CV) 和超快脉冲 IV 测量。
吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统主要特点及优点：
直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试
