天瑞仪器EDX3000PLUS X荧光贵金属检测仪

  • 发布时间:2023-07-03 11:06:21,加入时间:2022年11月14日(距今771天)
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超高分辨率:

采用SDD硅漂移探测器 ,分辨率为139±5ev ,而常规的Si-PIN探测器,分辨率为160±5eV, 能更好的检测铂金中铱和金的含量。

超高精确度,性能最优:

使用25mm2大面积铍窗探测器,大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术,提高分析速度,总体提高系统处理能力,计数率大可达8万,比Si-PIN 6mm2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。

超清晰摄像头,精确定位:

采用新型工业级相机,样品图像更加清晰,轻松实现精准定位。

小准直器,轻松实现精小部位测试:

提供多种准直器,直径最小达0.2mm,可轻松实现精小部位的精确测试,同时可根据测试需求电动切换准直器,使测量更加轻松更加准确。

一键式智能式操作,省去选曲线烦恼:

FP法的完整使用,只需一键操作即可智能化自动匹配曲线,操作一步到位。

 

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