半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱可独立设定高温、低温、及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽式或二槽式之功能，具备高低温试验箱的功能。采用进口微电脑大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文显示控制系统。 高程序记忆容量，可设定储存 120 组程序，大循环设定 9999 Cycles，每段时间大设定 999 Hrs 59Mins。
冷热冲击试验箱技术指标：
型号: TS-80A TS-80B TS-80C TS-80D TS-80E TS-80F TS-80G
内箱尺寸（cm） 50 x 40 x 40 60 x 40 x 45 60 x 50 x 50 70 x 60 x 60 80 x 80 x 80
温度感传器：T *4
控制器：OYO-8226
设定范围：温度: -100.00+200.00℃ / TIME : OH00M ~ 99H 59M / CYCLE : 0 CYCLE ~9999 CYCLE
分辨率TEMPERATURE : 0.01℃
输出型式：PID + SSR 控制模式
扩充特色：（RS-232 ）远程监控管理系统 / Ln2液态氮快速降温控制装置
电源：AC 3ψ380V , 50Hz
冷热冲击试验箱控制系统：
预热温度：+ 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃
预冷温度: - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃
高温冲击: + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃
低温冲击：-10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃
温度分布均匀度：±2.00℃ 以内（UNDER ±2.00℃）
仿真负载（KG）：2.5 2.5 5 5 5 5 10.0
冷热冲击试验箱控制系统：
高温冲击3箱：Rt℃~ +150℃ / 5 MIN RT℃~ +150℃ / 5 MIN RT℃~ +150℃ / 5 MIN
低温冲击3箱：RT℃~ -65℃ / 5 MIN RT℃~ -65℃ / 5 MIN RT℃~ -65℃ / 5 MIN
高温冲击2箱：-40℃~ +150℃ / 5 MIN -55℃~ +150℃ / 5 MIN -65℃~ +150℃ / 5 MIN
低温冲击2箱：+150℃~ --65℃ / 5 MIN +150℃~ -65℃ / 5 MIN +150℃~ -65℃ / 5 MIN
预热时间：25MIN 30MIN 45MIN 40MIN 50MIN 40MIN 50MIN
预冷时间：60MIN 75MIN 80MIN 85MIN 85MIN 90MIN 100MIN
冷热冲击试验箱结构：
预冷箱、预热箱、 测试箱、固定类型的物体测试,可选择2箱或3箱
气门装置：强制的空气装置气门
内箱材料：SUS #304 不锈钢
外箱材料：SUS#304不锈钢
测试栅盘：不锈钢网架
冷冻系统：复叠式制冷
冷却方式:水冷式
环境温度:（Ambient Temperature） 10℃ ~ 35℃
半导体芯片三箱式冷热冲击试验箱用途：
可用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经及高温及低温的连续环境下所能承受的程度, 藉以在短时间内 试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属,塑料, 橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考。
