阻抗分析仪 HIOKI IM3570 优惠供应

日置HIOKI IM3570阻抗分析仪简介：日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

日置HIOKI IM3570阻抗分析仪特点：

1、基本精度±0.08%的高精度测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。

2、LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量。

3、日置IM3570阻抗分析仪适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量。

4、1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。

日置HIOKI IM3570阻抗分析仪技术参数：

测量模式

LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量

测量参数

Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q

测量量程

100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）

日置IM3570阻抗分析仪显示范围

Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值

θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）

Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

基本精度

Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）

测量信号电平

V模式，CV模式（普通模式）

50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）

10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）

CC模式（普通模式）

10μA~50mArms，10uArms步进（1MHz以下）

10μA~10mArms，10uArms步进（1.0001MHz以上）

输出阻抗

普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能

接口

EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN