探针台测试探针座探针调整平移台高精度IV测试

  • 发布时间:2023-03-28 10:08:05,加入时间:2023年01月31日(距今652天)
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产品信息:

主体材质采用航空铝合金,表面喷砂氧化,良好的机械性能,高强度,耐磨

位移部分采用进口交叉滚珠导轨,超高稳定性

整体驱动采用进口高分辨率微分头,提高整体位移精度

匹配多功能调节夹具,可以180°旋转+精密60°定向倾斜,适用于在显微镜下定向调节探针,不阻挡视野

底部超强可调磁性底座,可以通过旋钮调节磁力的有无,磁性吸附10Kg,保证了扎针稳定性

可以升级真空吸附,搭配真空泵,7L/min

技术参数:

探针位移行程:XYZ三维分别13mm+180°旋转+精密60°角度倾斜(可锁紧)

整体结构外形尺寸:300mm×65mm×142mm(LWH)

探针位移精度:1μm

漏电精度:同轴线缆(10pA)

进口三同轴线缆(100fA)

可选接头:同轴线缆可选择BNC、鳄鱼夹、香蕉插头、N型、SMA等

进口三同轴线缆可选择三同轴接口(Triaxial)

测量范围:电流:10pA/100fA-10A

电压:≤1400V

适用于R/F量测、I/O点量测、直流DC测试 、晶圆测试、电阻电压测试、太阳能电池测试、光电流测试、半导体器件分析测试等

探针台测试探针座探针调整平移台高精度IV测试

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