加热探针台恒温调整样品太高精度IV测试光电分析高温

  • 发布时间:2023-02-22 09:45:37,加入时间:2023年01月31日(距今651天)
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TDR系列探针台包括探针台面板,探针架,高精度探针定位器,恒温样品台,样品位移系统,显微成像系统等组成,模块化设计,后期方便升级满足不同应用要求

可用于12寸以内样品测试

探针台整体位移分辨率3μm,样品XYZR四维调节

兼容多种光学显微镜,可以引入光路,完成光电mapping测试

探针采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计

PID控温,可加热至300℃,控温精度±1℃,有效区域温度均匀性±5℃

1微米以上电极/PAD使用

加宽探针架,可以放置6个DC探针座/4个RF探针座

全系列搭配显微镜XY精密移动功能,可以选配多种位移行程以及驱动形式

多被用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等

加热探针台恒温调整样品太高精度IV测试光电分析高温

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