中图仪器W1三维白光形貌干涉仪测量亚纳米级粗糙度轮廓度，其重建算法自动滤除样品表面噪点，在硬件系统的配合下，分辨率可达0.1nm。可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
产品功能
1）W1三维白光形貌干涉仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；
2）测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；
3）测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；
4）分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；
5）分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；
6）分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。
应用
在3C领域，可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度；
在LED行业，可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度；
在光纤通信行业，可以测量光纤端面缺陷和粗糙度；
在集成电路行业，可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；
在EMES行业，可以测量台阶高度和表面粗糙度；
在军事领域，可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。
中图仪器W1三维白光形貌干涉仪由于镜头视野较小，要想测量物体整个区域的表面情况，只能用自动拼接测量功能，但耗时较多，这时候可以用自动多区域测量功能，在样品表面抽取多个测量区域进行测量，从而对样品进行评估分析。测量方法很简单：
1.点击XY复位，使得镜头复位到载物台中心
2.将被测物放置在载物台夹具上，被测物中心大致和载物台中心重合；
3.确认电机连接状态和环境噪声状态满足测量条件；
4.使用操纵杆摇杆旋钮调节镜头高度，找到干涉条纹；
5.设置好扫描方式和扫描范围；
6.点击选项图标，确认自动找条纹上下限无误；
7.点击多区域测量图标，可选择方形和（椭）圆形两种测量区域形状；
8.根据被测物形状和尺寸，"形状”栏选择“椭圆平面”，X和Y方向按需设置；
9.点击弹出框右下角的“开始”图标，仪器即自动完成多个区域的对焦、找条纹、扫面等操作。
