QNix4200涂层测厚仪为磁性测厚仪，可以用来测量磁性基体上的涂镀层；QNix4200涂层测厚仪为科瑞郎产品，其价格低，测量范围广，精度高。
QNix4200涂层测厚仪-优点：
• 只需调零，无需校准
• 体积小巧，操作方便
• 一机双用，自动识别基体
• 精度高
• 价格便宜
技术参数
QNix4200涂层测厚仪-技术参数：
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QNix4200 |
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磁性基体(Fe模式) |
有 |
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测量范围 |
QN4200：Fe:0-3000um
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显示精度 |
0.1um |
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精度 |
0-50um:≤±1um |
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50-1000um:≤±1.5%读数 |
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1000-3000um≤±3%读数 |
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最小接触面 |
10×10mm |
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最小曲率半径 |
凸面：3mm；凹面：25mm |
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最小基体厚度 |
Fe:0.2mm |
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温度补偿范围 |
0-60℃ |
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显示 |
LCD液晶(带背光) |
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探头 |
红宝石固定式 |
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电源 |
2×1.5V干电池 |
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尺寸 |
100×60×27mm |
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重量 |
110g |
QNix4200涂层测厚仪-标准配置：
主机、2节5号电池、铁基板、说明书
