美国博曼BA-100 M系列是毛细管结构，15umFWHM可以测量FPC或半导体行业，很薄镀层，以及镀层，测量光斑小，测量精度小于１％。
美国博曼M系列X射线测厚仪原理：
X 射线荧光：入射X射线光子轰击内层电子，将电子逐出原子形成空穴，由外层电子来填充这个空穴。高能量的电子来填补逸出的电子（空穴），两层轨道的能量差以二次X射线光子释放，产生荧光。Moseley（莫斯莱）发现荧光 x 射线的能量与原子序数有关 E=K (Z-C)2 ，每个元素的荧光都有自己的能量成为特征 X 射线。BowmanX 射线装置利用 X 射线荧光原理测量镀层和成份。样品被来自射线管的射线轰击，产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过 XRF 的强度我们可以样品的厚度及每个元素的成份。X 射线人眼是看不见的。需要设备将 X 射线转换成我们可以理解和处理的信号以便我们可以从 x 射线中提取信息。此设备称为探测器。探测器与数字脉冲器（将 x 射线转为电信号）。
M系列毛细管镀层测厚仪优势：
1、更小的特征测量
毛细聚焦管光学元件的光束尺寸小于100μm，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超精细特征。它可以测量传统准直器无法测量的区域。
2、更薄的镀层测量
XRF分析仪装有毛细聚焦管，能将更多的X射线管输出聚焦到样品上，从而测量纳米级的镀层。
3、更高的测试量和更高的置信度（测量时间更短，准确性与重复性精度更高）
光学器件产生的更大强度带来更高的计数率。在XRF中，更高的计数率意味着更高的精度和更快的结果。这可以在任何给定时间段内进行更多的测量且得到置信度更高的结果，从而实现更好的质量控制和更紧密的生产。
4、更容易符合指标
XRF在确定和控制饰面处理厚度过程中的使用可通过用于ENIG（化学镀镍/浸金）和ENEPIG（化学镀镍/化学镀钯/浸金）分析的性能指标IPC-4556来实现，这些测试必须证明在确定公差范围内的性能水平。使用毛细聚焦管更易实现这一性能水平。
博曼BA-100 毛细管镀层测厚仪仪器能力：
l可完成镀层厚度测量、元素分析、电镀液分析
l最多同时测量5层（4层镀层+底材），每层可同时分析10种元素
l成分测量可同时分析25种元素
l元素范围从铝（13）到铀（92）
l厚度范围从低至1nm（纳米）到超过100um（微米）
l符合ISO3497、ASTM B568标准测试方法
l满足IPC-4552A、4553A、4554 和 IPC4556 标准 注：具体应用的测量范围及精度，以厂家确认的规格为准。
