膜厚仪测厚仪新动态

  • 发布时间:2024-11-21 09:22:34,加入时间:2021年11月05日(距今1112天)
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博曼X射线膜厚测试仪主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco ControlledMeasurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。

只需轻轻按一下激光对焦按钮,就可自动进行对焦。

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