美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供准确、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用先进的的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点
射线出射点预置于射线管Be窗正中央
长寿命的射线管灯丝
ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
显著提高X射线信号强度
获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
小于100um直径的测量斑点
经过验证,接近*的测量精度
