膜厚仪探头的选择

  • 发布时间:2024-11-15 09:28:52,加入时间:2021年11月05日(距今1112天)
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英国Oxford牛津SRP-4面铜探头(CMI700/CMI600/CMI563

 SRP-4面铜探头测试技术参数

Oxford牛津CMI760(CMI700)座台式孔面铜测厚仪

 l 准确度:5%参考标准片

l 精准度:化学铜:标准差0.2 %电镀铜:标准差0.3 %

l 分辨率:0.1μm≥10μm0.01μm<10μm0.001μm<1μm0.01mils≥1 mil0.001mils<1mil

l 厚度测量范围:化学铜:0.25μm–12.7μm10μin–500μin

电镀铜:2.5μm–254μm0.1mil–10mil

l 线性铜线宽范围:203μm–7620μm8mil–300mil

膜厚仪探头的选择

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