镀层测厚仪博曼G系列

  • 发布时间:2024-11-18 14:12:24,加入时间:2021年11月05日(距今1112天)
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博曼G系列XRF是实验室和生产线的理想选择,特别是在用户拥有:
预留摆放空间小
预算有限
优先使用电动Z轴进行“自下而上”操作
需要快速,轻松地定位较小的样品
ASTM B568,DIN 50987和ISO 3497
渴望升级旧的XRF的性能和效率–并获得丰厚的以旧换新奖励!
符合RoHS要求

产品规格

元素测量范围: 13号铝元素 到 92号铀元素
X射线管: 50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管
探测器: 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器
分析层数
及元素数:
5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
滤波器/准直器: 4个过滤器/单准直器(可选双)
焦距: 单个固定焦深,激光和自动对焦
数字脉冲处理: 4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正
计算机: 联想商用i5控制电脑(Win10 简体中文),显示器,彩色喷墨打印机
相机: 1/4''(6mm)CMOS-1280×720 VGA分辨率
视频放大倍率: 20x:标准
电源: 150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz
重量: 25kg
马达控制/可编程XY平台 不可用
延伸可编程XY平台: 不可用
可选的手动XY样品台 桌子尺寸:279毫米(11英寸)x 254毫米(10英寸)行程:38毫米(1.5英寸)x 38毫米(1.5英寸)
样品仓尺寸: 高度:100mm(4"),宽度:325mm(13"),深度:300mm(12")
外形尺寸: 高度:325mm(13"),宽度:350mm(14"),深度:450mm(18")

镀层测厚仪博曼G系列

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