COMBITEST
微电阻测量。可测量低至0.1mΩ的阻抗。阻抗愈低，声频频率愈高。在2条发生短路的轨道上，短路点之间将会呈现低阻抗。
微电压测量。可测量低至1μV的直流电压。使用时，由追踪仪输出一低直流电压（不超过0.55V）于故障线路上，再测量各点之电压值，继而找出超负荷的VCC线，低阻抗或一般短路等故障。
电流流向追踪。由追踪仪输出一可调校方形电压于故障线路上，透过磁棒追踪电流方向，电流愈强，声音频率愈高。一般电容器内部短路或总线短路皆可用这种方法迅速找出短路点。
置位功能。如非完全短路情况发生，利用普通量度法是很难准确地找出短路点的。这时若使用置位功能，将某一阻抗作为基值，其它阻抗可量度为该基值的偏离，细微的阻抗便可辩别出来。
