激光测厚仪由左、右两个对射的激光测头组成，激光测头1和激光测头2以固定间距A相对布置，工作时激光测头1发射一束激光照射被测物的下表面，下表面光斑的漫反射光在通过透镜系统返回到激光测头1内的CCD或CMOS芯片上，通过对CCD或CMOS芯片上光斑的位置分析和计算，可以得到激光测头1到被测物下表面的实际距离B1；同理可以得到激光测头2到被测物上表面的距离B2。用两个测头之间的间距A减去两个测头到被测物上下表面的距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。
参数：
1、可测范围：0～150mm（根据实际要求定制）
2、测量精度：≤0.05mm
3、测量频率：500Hz，即每组测头每秒钟测量500个厚度数据
4、被测物温度：0~900℃
5、被测物运动速度：≤50m/s
6、被测物运动抖动范围：＜10mm
7、电源电压：AC220±15%V，50Hz
8、环境温度：-10~+50℃
9、环境湿度：≤80%RH（不结露）
