LPBH60.1型在线激光测厚仪设备基本测量原理如图所示。图中激光测头1和激光测头2以固定间距A相对布置,工作时激光测头1发射一束激光照射被测物的下表面,下表面光斑的漫反射光再返回到激光测头1内的CMOS或CCD芯片上,通过对CMOS或CCD芯片上光斑的位置分析和计算,可以得到激光测头1到被测物下表面的实际距离B1;同理可以得到激光测头2到被测物上表面的距离B2。用两个测头之间的间距A减去两个测头到被测物上、下表面的距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。
LPBH60.1型在线激光测厚仪设备基本测量原理如图所示。图中激光测头1和激光测头2以固定间距A相对布置,工作时激光测头1发射一束激光照射被测物的下表面,下表面光斑的漫反射光再返回到激光测头1内的CMOS或CCD芯片上,通过对CMOS或CCD芯片上光斑的位置分析和计算,可以得到激光测头1到被测物下表面的实际距离B1;同理可以得到激光测头2到被测物上表面的距离B2。用两个测头之间的间距A减去两个测头到被测物上、下表面的距离B1、B2即可得到被测物的厚度H。
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