膜厚仪，膜厚测试仪，膜厚测量仪

美国博曼膜厚仪的来历：

从CMI到Bowman

美国博曼Bowman由建立CMI International的技术团队创立，并成功发展公司，成为XRF电镀测量行业备受尊敬的领导者。 Bowman团队为客户提供了超过五十年的涂层厚度测量和元素分析行业综合经验的优势。

博曼致力于提供前沿的分析解决方案，来满足全球制造企业、电镀企业和经销商。所有产品产于美国，好的服务和支持团队为品质保驾护航。

P系列 提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。 它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。 操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。 可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。 精确控制可用于测试关键区域。 通过多点编程可以获得更大的采样量。

标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。 可以为应用定制准直器和焦距。 固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。 SDD检测器是可选的。

元素测量范围： 13号铝元素到92号铀元素

X射线管： 50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管

探测器： 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

分析层数 

及元素数： 5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素

滤波器/准直器： 4位置一次滤波器/ 4种规格准直器

焦距： 可变焦

数字脉冲处理： 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正

计算机： 英特尔, 酷睿处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

相机： 1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率

视频放大倍率： 30x：标准45x：可选

电源： 150WV，频率范围为47Hz至63Hz

重量： 32-50kg

马达控制/可编程XY平台 表大小：381mm（15“）x 340mm（13”）| 行程：152mm（6“）x 127mm（5”）

延伸可编程XY平台： 表大小：635mm（25“）x 635mm（25”）| 行程：254mm（10“）xrdquo;）

现在可用 扩展 舞台选择

样品仓尺寸： 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"）

外形尺寸： 高度：450 mm（18“），宽度：450 mm（18”），深度：600 mm（24“）

P系列可满足以下类型用户的需求：