少子寿命测量仪BLS-I

  • 发布时间:2024-07-12 08:37:21,加入时间:2012年07月03日(距今4556天)
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用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。

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