高低温测试是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等，通过此测试程序可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段，充分提高客户生产效率和产品品质。
高温试验的作用
高温试验室的主要功用是对电子设备进行高温试验或温度变化试验，它可以对大型或小型大批量电子设备进行试验。
电子设备一般都要进行高温试验和温度变化试验。高温试验（包括高温老化）可以考核电子设备在高温环境条件下贮存、运输和使用的适应性，温度变化试验可以确定电子设备在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的适应性。通过试验可以暴露诸如设计、工艺、元器件等方面的缺陷，以便采取适当对策，改进产品，提高产品质量
为能正确观察与验证产品在高温环境下之热效应，同时避免因湿度效应影响试验结果，标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。
高温条件下试件的失效模式产品所使用零件、材料在高温时可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象。
高温试验环境
80±2℃环境中放置4h,常温下放置2h后,各尺寸、绝缘电阻、耐压、按键功能、回路电阻符合正常要求,且外观无变形、翘曲、脱胶等异常现象。按键凸点高温下塌以及按力变小不作考核。
温度范围：10℃～210℃。
按GB/T 2423.1—89 《电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 低温试验》;
GB/T 2423.22—87 《电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 温度变化试验方法》
进行高温试验及温度变化试验。
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