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非接触式深度量显微镜、半导体金线测量显微镜 un

  • 发布时间：2024-11-10 00:00:00,加入时间:2012年06月10日(距今4550天)
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品牌:UNION  HISOMET 系列 型号DHII  产地:日本  非接触式深度测量工具显微镜 UNION显微镜 UNION测量显微镜

Z轴测量误差：1微米 (40×) 读数精度0.1微米

日本Union HISOMET DHII高精度非接触深度测量显微镜
采用光学和非接触方法探测焦距的方法，测量不会给样品造成变形或划痕等影响，这些往往是采用物理性接触测量时产生的。基于目标分光方法原理的精密聚焦指示器的应用，以简单地把两个目标标志部分重合起来进行高精度的测量..

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